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摘要　介紹聚酯薄膜生產中影響厚度公差的因素，測厚儀控制原理，以及消除影響厚度公差的因素的方法。　　關鍵詞　BOPP聚酯薄膜　厚度公差　差動螺栓　測厚儀　半衰期    在聚酯薄膜生產中，薄膜公差的好壞直接影響薄膜的品質，所以，薄膜公差一直是薄膜制造商十分關注和力求改善的技術指標。然而，有時操作者盡了 很大努力，薄膜公差卻難以達到理想的水平，本文就影響公差的因素，薄膜公差控制原理，調節(jié)方法等方面作一些探索?！　∫?、 薄膜公差控制原理    隨著科學技術的發(fā)展，薄膜厚度測量手段也越來越多，在聚酯薄膜生產中，β射線測厚儀是一種比較常用的在線測厚儀，下面就采用β射線測厚儀進行厚度控制的原理作一介紹。　　1β射線測厚儀厚度測量原理    β射線測厚儀分為上、下二部分，下邊部分為射源信號發(fā)射裝置，根據(jù)被測薄膜的厚度，通常選擇Kr85、Pm147等放射性元素作為射源，上半部分為射源信號接收裝置，需要測試的薄膜位于測厚儀信號發(fā)射裝置與接收裝置之間，測厚儀開始檢測薄膜厚度時，射源發(fā)射裝置的快門打開，測厚儀發(fā)射裝置發(fā)出的射源信號通過薄膜衰減后，由測厚儀信號接收裝置接收，薄膜越厚，信號衰減越大，測厚儀接收裝置接收到的信號，在接收裝置內經過處理，轉化為電信號輸出，作為顯示和控制用?！　? 厚度公差控制原理    在雙向拉伸聚酯薄膜生產中，薄膜的厚度、公差，很大程度取決于鑄片的形狀，也就是說模頭的口唇的形狀，通常采用手動調節(jié)模頭螺栓的方法對模頭口唇的形狀進行粗調，然后采用自動控制薄唇上差動螺栓加熱功率的方式對模頭口唇的形狀進行精調。    由于原料從模頭中出來，受其自身重力、鑄片機的牽引力、原料從膜頭出來的溫度等因素的影響，從模頭邊緣出來的原半在鑄片機上的厚度寬度變窄，即產生頸縮，其余部位寬度基本不變，在生產中，通常將有頸縮部分的膜作為廢邊切掉，使測厚儀測得的薄膜位置?？梢耘c模頭上的位置相對應。    薄膜厚度自動控制方式是在薄膜生產中，β射線測厚儀沿薄膜的寬度方向——與薄膜的運動方向相垂直來回移動，連續(xù)檢測薄膜的厚度，系統(tǒng)將測得的厚度信號與設定的厚度信號相比較，然后輸出一控制信號，控制相應模頭上差動螺栓的加熱功率，來改善膜唇的間隙，使所生產的薄膜盡量達到設定厚度。　　二、影響薄膜公差的因素　　常見的影響薄膜公差的因素有：　　1生產工藝發(fā)生變化　　2原料及配比發(fā)生變化　　3測厚儀受污染　　4測厚儀放射性元素的衰減　　5厚儀外部工況的影響　　6模頭口唇間隙超出自動調節(jié)范圍　　　三、消除影響薄膜公差因素的方法　　1當工藝發(fā)生變化時，如熔體的溫度變化、生產線的速度變化等因素，都有可能造成薄膜頸縮的變化，使測厚儀測得的薄膜厚度信號與模頭控制螺栓上的位置有偏差，所以，當工藝發(fā)生變化，或環(huán)境工況發(fā)生變化，薄膜公差有波動時，應做頸縮參數(shù)的校正?！　?原料及配比發(fā)生變化時，從測厚儀的工作原理可以知道，β射線測厚儀是通過測透過薄膜的射線衰減量來確認薄膜厚度的，當原材料配比發(fā)生變化時，對于同樣厚度的薄膜，測厚儀測得的數(shù)據(jù)會有差異，這要求調節(jié)測厚儀的厚度測量校正系數(shù)，使測厚儀測得的數(shù)值與實際相符?！　?測厚儀發(fā)射裝置、接收裝置表面的薄膜受到污染，都會造成測厚儀測得的數(shù)據(jù)與實際有偏差，測厚儀表面的膜片受污染，可以用軟紗布蘸酒精進行清潔。　　4由于測厚儀的放射源是一種放射性物質，每種放射源有著不同的半衰期，隨著時間的推移，放射源的信號不斷衰減，由于測厚儀射源信號衰減，造成測厚儀接收裝置接收到的信號減小，產生測量誤差。測厚儀射源衰減，可以通過調節(jié)射源信號放大倍數(shù)到標準值進行解決，當射源使用超過2個半衰期，射源發(fā)射的射線強度將降低至射源出廠時的25％，使用時應根據(jù)具體情況，確定是否更換射源?！　?測厚儀外部工況的影響    由于測厚儀在工作時，是在金屬框架上來回移動對薄膜進行檢測的，環(huán)境溫度、框架變形都會對測厚儀的檢測結果產生影響，定期做好測厚儀的零截面補償和框架校正將有利于提高測厚儀的檢測度。　　6模頭口唇間隙超過自動調節(jié)范圍　    在實際生產中，有時會出現(xiàn)無論用手動還是自動方式，薄膜公差怎么也調不到較好的狀態(tài)，比較有效的薄膜公差改善方法是將薄膜螺栓控制復位(有時摩頭螺栓已調到極限，不能繼續(xù)調節(jié)，可先將模頭螺栓松開到中間位置)，其具體做法是：　　·將模頭加熱螺栓的溫度都設定在250℃；　　·在生產線運行狀態(tài)，打開在線測厚儀，通過人工方式調節(jié)薄膜的公差，使薄膜公差的2σ值小于3％?！　　み\行薄膜厚度自動控制模式，使薄膜厚度控制在較好的狀態(tài)。